Ce dispositif, bénéficiant d’une précision impressionnante de 0,34 nanomètre en à peine 25 microsecondes, est conçu pour être à la fois compact et durable, le rendant particulièrement adapté aux environnements industriels plutôt qu’uniquement aux laboratoires.
En intégrant un peigne à fréquence optique au sein d’une configuration interférométrique, ce système allie la précision des mesures nationales à une rapidité d’exécution lors des relevés.
Par ailleurs, cette avancée répond à la demande croissante de mesures de haute précision dans des domaines technologiques avancés, notamment l’intelligence artificielle et les semi-conducteurs.
Les chercheurs de KRISS s’efforcent d’optimiser encore davantage ce dispositif en étudiant son incertitude de mesure, dans l’objectif d’établir une nouvelle norme nationale de longueur.
Selon le Dr Jang Yoon-Soo, cette innovation est essentielle pour renforcer la position de la Corée sur la scène internationale en matière de métrologie de précision.L’article Un nouveau système s’approche de la limite théorique de la physique. est apparu en premier sur IA Tech News | Restez informé sur le futur de la technologie et de l’IA.
Source: IA Tech news
